Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6610LV позволяет исследовать различные объекты в различных типах сигналов
(отраженные электроны, вторичные электроны) с увеличением от х30 до х300 000 и пространственным
разрешением до 3 нм в режиме высокого вакуума
