Оборудование

Основные технические характеристики

Назначение

Сканирующий электронный микроскоп серии JSM-6610

Разрешение HV режим: 3.0 нм (30 кВ), 8 нм (3 кВ), 15 нм (1 кВ);

Режим LV: 4 нм (30 кВ);

Увеличения: от 5x до 300,000 128 (для изображения размером 96 мм × XNUMX мм);

Ускоряющее напряжение: 0.3 кВ до 30 кВ;

Электрический сдвиг изображения: ±50 мкм (ширина диаметра = 10 мм)

Позволяет получить изображение поверхности образца в масштабе нескольких нанометров с помощью разных способов детектирования. Обладает детектором обратнорассеянных электронов,
низковакуумным детектором вторичных электронов 
энергодисперсионным рентгеновским анализатором (ЭДС),
анализатором рентгеновского излучения с дисперсией по длине волны (WDS)

Лабораторные весы Radwag XA 82/220/Y

Большой удобный графический (модели с буквой X) или сенсорный (Y) дисплей;

Русифицированное меню.

Электромагнитная весовая ячейка;

Защитная стеклянная витрина;

Датчики движения позволяют управлять весами в бесконтактном режиме;

Автоматическая адаптация к условиям внешней среды;

Встроенная калибровка осуществляет автоматическое тестирование через заданные периоды времени, а также при изменении влажности и температуры;

Режимы подсчета, дозирования, процентного взвешивания.

Оптический научный микроскоп NU-2E

Исследование в отраженном свете (металлографические объекты) и в проходящем свете (биологические объекты);

Установлена программа вывода и обработки изображения на экран компьютера;

Максимальное увеличение ×1200.

Предназначен для микроскопических исследований.