Перечень имеющихся методов и методик АСМ и СТМ

- Метод постоянной тока (Constant Current mode) - измерение рельефа поверхности при сканировании образца проводящим зондом, при этом система обратной связи поддерживает постоянной величину туннельного тока между зондом и поверхностью.

- Метод постоянной высоты (Constant Height mode) - измерение рельефа поверхности при сканировании образца проводящим зондом, при этом система обратной связи поддерживает постоянной величину туннельного тока между зондом и поверхностью, система обратной связи разорвана и z-координата сканера поддерживается постоянной.

- Метод постоянной пилы (Constant Force mode) - измерение рельефа поверхности при сканировании образца зондом, находящимся с ним в непосредственном контакте, при этом система обратной связи поддерживает постоянной силу прижима зонда к поверхности.

- Метод постоянной высоты (Constant Height mode) - измерение рельефа поверхности при сканировании образца зондом, находящимся с ним в непосредственном контакте, при этом система обратной связи разомкнута и z-координата сканера поддерживается постоянной.

- Контактный метод рассогласования (Contact Error mode) - отображение сигнала рассогласования на входе системы обратной связи в процессе реализации Метода Постоянной Силы, подчеркивание малоразмерных деталей рельефа поверхности.

- Микроскопия латеральных сил (Lateral Force Microscopy). - отображение распределения локальной силы трения по поверхности образца.

- Метод модуляции силы (Force Modulation mode) - отображение распределения локальной упругости по поверхности образца.

- Отображение сопротивления растекания (Spreading Resistance Imaging) - отображение распределения локальной проводимости образца.

- Контактная электростатическая силовая микроскопия (ЭСМ) (Contact EFM) - отображение распределения электрического потенциала по поверхности образца, характеризуется повышенным разрешением.

- Атомно-силовая акустическая микроскопия (АСАМ) (Atomic-force Acoustic micros­ copy, AFAM) - отображение распределения локальной упругости по поверхности образца.

- АСАМ резонансная спектроскопия (AFAM Resonance Spectroscopy) - отображение распределения локальной упругости по поверхности образца с возможностью получения количественных данных по распределению приведенного модуля Юнга.

- Прерывисто-контактный метод - измерение рельефа поверхности с использованием колеблющегося с резонансной частотой зонда. В процессе сканирования острие зонда в нижней точке колебаний слегка касается поверхности образца.

- Прерывисто-контактный метод рассогласования (Semicontact Error mode) - отображение сигнала рассогласования на входе системы обратной связи в процессе реализации Прерывисто-Контактного Метода, подчеркивание малоразмерных деталей рельефа поверхности.

- Метод отображения фазы (Phase Imaging mode) - отображение особенностей рельефа, поверхностной адгезии и вязкоупругости, определяющих фазовую задержку колебаний зонда.

- Бесконтактный метод ACM (Non-Contact mode) - измерение рельефа поверхности с использованием колеблющегося с резонансной частотой зонда. В процессе сканирования острие зонда не касается поверхности образца, а обратная связь поддерживает постоянной амплитуду колебаний зонда.

- (Статическая) Магнитно-силовая микроскопия (С МСМ) (DC Magnetic Force Mi­croscopy, DC MFM) - отображение распределения магнитной структуры поверхности, связанной с локальными различиями распределения первой производной магнитного поля.

- Динамическая магнитно-силовая микроскопию (Д МСМ) (AC Magnetic Force Microscopy, AC MFM) - отображение распределения магнитной структуры поверхности, связанной с локальными различиями распределения второй производной магнитного поля.

- Электростатическая силовая микроскопия (ЭСМ) (Electrostatic Force Microscopy, EFM) -отображение распределения электрического потенциала по поверхности образца.

- Метод зонда Кельвина (Kelvin Probe Microscopy) - измерение распределения электрического потенциала по поверхности образца.

- Сканирующую емкостную микроскопию (СЕМ) (Scanning Capacitance Microscopy, SCM) -отображение распределения локальной поверхностной электрической емкости в системе проводящий образец - проводящее острие.