События

Список лекторов школы

1. Алешин Андрей Николаевич, д.ф.-м.н., с.н.с., Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН «Методы исследования полимерных и гибридных (органика-неорганика) материалов для органической электроники»

2. Андреев Владимир Викторович, д.ф.-м.н., Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана, Калужский филиал «Контроль качества и модификация наноразмерных диэлектрических слоев интегральных микросхем и полупроводниковых приборов»

3. Анкудинов Александр Витальевич, к. ф.-м. н., с.н.с., Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН «Использование методов атомно-силовой микроскопии в точных наномеханических экспериментах»

4. Афанасьев Валентин Петрович, д.т.н., профессор, Санкт-
Петербургский государственный электротехнический университет
“ЛЭТИ” имени В.И. Ульянова (Ленина).
 «Нанодиагностика материалов и структур тонкопленочных солнечных элементов на основе Si»

5. Бобыль Александр Васильевич, д.ф.-м.н., профессор, Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе РАН «Рентгеновская дифрактометрия и рефлектометрия структур на основе аморфного кремния»

6. Брунков Павел Николаевич, д.ф.-м.н., в.н.с., Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН «Методика исследования одиночных слоев графена при помощи атомно-силовой микроскопии»

7. Быков Виктор Александрович, д.т.н., профессор, Ген. директор ЗАО "НТ-МДТ", Москва «Современное диагностическое и технологическое оборудование для создания объектов наноэлектроники»

8. Данилов Юрий Александрович, к.ф.-м.н., в.н.с., Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского университета им. Н.И. Лобачевского «Определение характеристик магнитных полупроводниковых наногетероструктур»

9. Дьячков Павел Николаевич, д.х.н., профессор, Институт общей и неорганической химии им. Н.С.Курнакова РАН «Методы исследования строения, свойств и некоторые применения нанотрубок»

10. Иванов-Омский Владимир Иванович, д.ф.-м.н., профессор, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН «Диагностика воды в наноструктурах живого и растительного происхождения» «Логика открытия»

11. Ильин Александр Викторович, директор департамента аналитического оборудования компании «Interactive Corporation» «Низковольтовая растровая электронная микроскопия»

12. Казанский Андрей Георгиевич, д.ф. - м.н., профессор, Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова «Диагностики нанокристаллических материалов методом Рамановской спектроскопии»

13. Кожевин Владимир Михайлович, к.ф.-м.н. Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН «Особенности исследования свойств аморфных наноструктур чистых металлов»

14. Козюхин Сергей Александрович, д.х.н. Институт общей неорганической химии им. Н.С. Курнакова «Диагностика фазовых переходов в материалах фазовой памяти на основе сложных халькогенидов»

15. Минаев Виктор Семенович, д.х.н., профессор, Национальный исследовательский университет «МИЭТ», Зеленоград «Количественная нанодиагностика структуры стеклообразных и нестеклообразных некристаллических полупроводниковых и диэлектрических материалов»

16. Мошников Вячеслав Алексеевич, д.ф.-м.н., профессор, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" имени В.И. Ульянова (Ленина) «Диагностика наноструктурированных материалов на основе фаз переменного состава»

17. Певцов Александр Борисович, к.ф.-м.н., с.н.с., Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе РАН «Характеризация тонкопленочных периодических структур на основе аморфно-нанокристаллического кремния методами оптической спектроскопии»

18. Попов Анатолий Игоревич, д.т.н., профессор, Национальный исследовательский университет «МЭИ» «Диагностика атомной структуры некристаллических полупроводников»

19. Теруков Евгений Иванович, д.т.н., профессор, Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе РАН «Перспективы развития тонкопленочных солнечных элементов на кремнии»

20. Титков Александр Николаевич, д.ф.-м.н., Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе РАН «АСМ / ЭСМ диагностика распределений зарядов в нано тонких слоях окислов и металлических наночастиц»

21. Тихомиров Алексей Александрович, ведущий специалист ЗАО «Нанотехнология МДТ» «Основы сканирующей зондовой микроскопии и методы ее применения в современных научных исследованиях»

22. Цэндин Константин Дамдинович, д. ф.-м. н., профессор, Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН «Характеристики эффектов переключения и памяти в халькогенидных стеклообразных полупроводниках»

23. Шерченков Алексей Анатольевич, д.т.н., профессор, Национальный исследовательский университет «МИЭТ» «Термоэлектричество: современное состояние, использование достижений нанотехнологии, диагностика наноматериалов»

24. Бодягин Николай Викторович, д.ф.-м.н., профессор, Рязанский государственный радиотехнический университет «Методы исследования воспроизводимости структуры материалов для микро- и наноэлектроники»

25. Вихров Сергей Павлович, д.ф.-м.н., профессор, Рязанский государственный радиотехнический университет «Исследование процессов самоорганизации в наноструктурированных материалах с применением теории информации»

26. Вишняков Николай Владимирович, к.т.н., доцент, Рязанский государственный радиотехнический университет «Диагностика материалов и наностуктур на основе неупорядоченных полупроводников с применением атомно - силовой микроскопии» «Организация дистанционного обучения и научных исследований в нанодиагностической лаборатории в режиме удаленного доступа»

27. Гуров Виктор Сергеевич, д.т.н., профессор, ректор Рязанского государственного радиотехнического университета «Функционирующий в режиме удаленного доступа интегрированный мультимедийный учебно-научный комплекс сканирующей туннельной микроскопии (ИМУНК СТМ) для дистанционного обучения и выполнения научных исследований»

28. Корнилович Александр Антонович, д.т.н., профессор, Рязанский государственный радиотехнический университет «Методы определения транспортных параметров наноструктур, основанные на магнитных квантовых эффектах»

29. Литвинов Владимир Георгиевич, к.ф.-м.н., доцент, Рязанский государственный радиотехнический университет «Диагностика электрофизических свойств полупроводниковых микро - и наногетероструктур методом токовой релаксационной спектроскопии глубоких уровней»

30. Холомина Татьяна Андреевна, д.ф.-м.н., профессор, Рязанский государственный радиотехнический университет «Методы иccледования биологических наносистем»

Список лекторов школы

ПЛЕНАРНЫЕ ДОКЛАДЫ И ЛЕКЦИИ

Секция 1

НОВОЕ ОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ НАНОМАТЕРИАЛОВ, НАНОЭЛЕМЕНТОВ И УСТРОЙСТВ

В.А.Быков, А.А. Тихомиров

Современное оборудование для создания и диагностики объектов наноэлектроники

А.В. Ильин 

Растровый электронный микроскоп сверхвысокого разрешения JEOL JSM-7800F

А.В. Анкудинов

Сила удара в тейпинг режиме: теория, моделирование, измерения

Секция 2

ДИАГНОСТИКА НАНОСТРУКТУРИРОВАННЫХ МАТЕРИАЛОВ И НАНОПОРОШКОВ

В.М. Кожевин

Диагностика аморфных наноструктур чистых металлов

В.А. Мошников, И.Е. Грачева, Ю.М. Спивак

Диагностика нестехиометрических полупроводниковых материалов и нанокомпозитов на их основе

В.С. Минаев

25 лет развития концепции полимерно-полиморфоидного строения и релаксации полупроводниковых и диэлектрических стеклообразующих веществ

А. Б. Певцов

Фотонные кристаллы на основе халькогенидных стеклообразных полупроводников

К.Д. Цэндин, Н.А. Богословский

Основы применения халькогенидных стеклообразных полупроводников в наноразмерных переключателях и ячейках памяти

А.А. Шерченков, Ю.И. Штерн

Новое поколение термоэлектрических материалов: использование достижений нанотехнологии, диагностика наноматериалов

В.Х. Кудоярова

Исследование состава, структуры и оптических свойств пленок a-Si1-xCx :H <Er>, легированных эрбием из комплексного соединения Er(Pd)3

В.В. Андреев, А.А. Столяров

Инжекционные методы контроля наноразмерных диэлектрических слоев интегральных микросхем

А.Г. Казанский

Третье поколение солнечных элементов

М.В. Заморянская

Катодолюминесценция и рентгеноспектральный микроанализ гетероструктур

Е.И. Теруков

Тонкопленочная солнечная энергетика на кремнии

В.П. Афанасьев

Диагностика тонких наноразмерных и наноструктурированных пленок аморфного гидрогенизированного кремния

Д.Е. Миловзоров

Солнечная батарея на основе нанокристаллического кремния

Д.Е. Миловзоров

Устройства памяти на основе нанокристалличнеского кремния

С.А. Козюхин, В.А.Гринберг

Цветосенсибилизированные ячейки на основе нанокристаллического оксида титана как преобразователи солнечной энергии

Секция 3

ДИАГНОСТИКА НАНОМАТЕРИАЛОВ НА ОСНОВЕ УГЛЕРОДА И ЕГО СОЕДИНЕНИЙ

П. Н. Дьячков

Влияние спин-орбитального взаимодействия и примесей на электронную структуру углеродных нанотрубок

А. И. Попов, М. Л. Шупегин

Диагностика структуры пленок кремний - углеродных нанокомпозитов

Секция 4

ДИАГНОСТИКА ОРГАНИЧЕСКИХ И ПОЛИМЕРНЫХ НАНОМАТЕРИАЛОВ

А.Н.Титков

Градиентная кельвин микроскопия органических приборных структур

Секция 5

ДИАГНОСТИКА МАГНИТНЫХ НАНОМАТЕРИАЛОВ

Ю.А. Данилов

Диагностика магнитных наноструктур на основе полупроводниковых соединений А3В5

Секция 6 

ДИАГНОСТИКА БИОНАНОМАТЕРИАЛОВ

Т.А. Холомина

Методы диагностики наноразмерных биологических объектов    

Список лекторов школы

Андреев Владимир Викторович, д.т.н., Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана: Калужский филиал

Лекция: «Методы модификации и диагностики наноразмерных диэлектрических слоев МДП-приборов»

 

Анкудинов Александр Витальевич, к. ф.-м. н., старший научный сотрудник, Учреждение Российской академии наук Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН

Лекция: «Максимальная сила воздействия на образец в АСМ режиме амплитудной модуляции»

 

Быков Виктор Александрович, д.т.н., профессор, Ген. директор ЗАО "НТ-МДТ", Москва, Тихомиров Алексей Александрович, ведущий специалист ЗАО «Нанотехнология МДТ»

Лекция: «Современные достижения и разработки атомно-силовой микроскопии»

 

Воронов Герман, менеджер продаж, ЗАО «Компания «НТНК»

Лекция: «Сканирующая зондовая микроскопия. обзор возможностей»

 

Anna E Walkiewicz, PhD, Agilent Technologies, Nanoscale Sciences Division, Wharfedale Road, IQ Winnersh, RG41 5TP Wokingham, UK

Лекция: «Breaking frontiers in graphene characterisation techiques»

 

Данилов Юрий Александрович, к.ф.-м.н., в.н.с., Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского университета им. Н.И. Лобачевского

Лекция: «Применение ионных пучков в диагностике и модифицировании полупроводниковых нанострукту»

 

Дьячков Павел Николаевич, д.х.н., профессор, Институт общей и неорганической химии им. Н.С.Курнакова РАН.

Лекция: «Роль спин-орбитального взаимодействия и влияние примесей на электронные свойства нанотрубок»

 

Здоровейщев Антон Владимирович, к.ф.-м.н., с.н.с., Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского

Лекция: «Получение и диагностика массивов квантовых точек In(Ga)As/GaAs, перспективных для применения в оптоэлектронике»

 

Зубков Василий Иванович, д.ф.-м.н., доцент, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина) (СПбГЭТУ)

Лекция: «Современные тенденции развития светоизлучающих диодов и их диагностика»

 

Ильин Александр Викторович, директор департамента аналитического оборудования, Российское представительство японской компании «Interactive Corporation»

Лекция: «Просвечивающий электронный микроскоп JEM-200ARM»

 

Клочков Анатолий Яковлевич, к.т.н., доцент, Рязанский государственный радиотехнический университет

Лекция: «Анализ состояния диагностики технологических процессов производства полупроводниковых структур по глубоким центрам»

 

Кожевин Владимир Михайлович, к.ф.-м.н., Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН

Лекция: «Диагностика электрических свойств и зарядового состояния плотных металлических наноструктур»

 

Козюхин Сергей Александрович, д.х.н. Учреждение Российской академии наук Институт общей неорганической химии им. Н.С. Курнакова

Лекция: «Фазовый переход «аморфное – кристаллическое» в халькогенидных полупроводниках Ge-Sb-Te»

 

Корнилович Александр Антонович, д.т.н., профессор, Рязанский государственный радиотехнический университет

Лекция: «Методы определения параметров 2D и 3D полупроводниковых структур по магнитным квантовым эффектам»

 

Минаев Виктор Семенович, д.х.н., профессор, Национальный исследовательский университет «МИЭТ», Зеленоград

Лекция: «Нанодиагностика полимерно-полиморфоидной природы старения стеклообразующего вещества»

 

Мошников Вячеслав Алексеевич, д.ф.-м.н., профессор, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет “ЛЭТИ” имени В.И. Ульянова (Ленина)

Лекция: «Коллоидные наночастицы халькогенидов металлов.

Получение. Диагностика. Применение»

 

Нащекин Алексей Викторович, к.ф.-м.н., с.н.с, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН

Лекция: «Диагностика наночастиц серебра синтезированных на поверхности стекол для биосенсорных приложений»

 

Попов Анатолий Игоревич, д.т.н., профессор, Национальный исследовательский университет «МЭИ»

Лекция: «Разупорядоченные и наноупорядоченные полупроводники – материалы, опережающие время»

 

 

Холомина Татьяна Андреевна, д.ф.-м.н., профессор, Рязанский государственный радиотехнический университет

Лекция: «Нанокомплексы и биосенсоры для диагностики и терапии»

 

Цэндин Константин Дамдинович, д. ф.-м. н., профессор, Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН

Лекция: «Физика эффектов переключения и памяти в халькогенидах»

 

Шерченков Алексей Анатольевич, д.т.н., профессор, Национальный исследовательский университет «МИЭТ»

Лекция: «Новое поколение термоэлектрических материалов»

Список лекторов школы

  • Авачёв Алексей Петрович, директор Центра аналитических исследований, к.ф.-м.н., доцент, Рязанский государственный радиотехнический университет 
  • Анкудинов Александр Витальевич, к.ф.-м.н., старший научный сотрудник, Учреждение Российской академии наук Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН 
  • Вишняков Николай Владимирович, директор Регионального центра зондовой микроскопии коллективного пользования, к.т.н., доцент, Рязанский государственный радиотехнический университет
  • Гололобов Геннадий Петрович, к.т.н., доцент, директор Регионального информационно-аналитического центра нанотехнологий, Рязанский государственный радиотехнический университет 
  • Ильин Александр Викторович, директор департамента аналитического оборудования, Российское представительство японской компании «Interactive Corporation» 
  • Козюхин Сергей Александрович, д.х.н. Учреждение Российской академии наук Институт общей неорганической химии им. Н.С. Курнакова 
  • Кучерова Ольга Владимировна, к.ф.-м.н., научный сотрудник, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И.Ульянова (Ленина) 
  • Литвинов Владимир Георгиевич, директор НОЦ Неупорядоченных и наноструктурированных материалов и устройств на их основе, к.ф.-м.н., доцент, Рязанский государственный радиотехнический университет 
  • Мишустин Владислав Геннадьевич, к.ф.м.н., доцент, Рязанский государственный радиотехнический университет 
  • Рыбин Николай Борисович, начальник лаборатории Регионального центра зондовой микроскопии коллективного пользования, к.ф.-м.н., Рязанский государственный радиотехнический университет 
  • Суворов Дмитрий Владимирович, к.т.н., доцент, Рязанский государственный радиотехнический университет 
  • Трубицын Андрей Афанасьевич, д.ф.-м. н., профессор, Рязанский государственный радиотехнический университет 
  • Холомина Татьяна Андреевна, д.ф.-м.н., профессор, Рязанский государственный радиотехнический университет 
  • Шелаев Артем Викторович, ведущий специалист ЗАО "НТ-МДТ", Москва

Список лекторов школы

Андреев Владимир Викторович, д.т.н., профессор, Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана: Калужский филиал

Лекция: «Методы контроля и диагностики ультратонких диэлектрических пленок МДП-приборов»

Анкудинов Александр Витальевич, к. ф.-м. н., старший научный сотрудник, Учреждение Российской академии наук Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН

Круглый стол: «Ближнепольная микроскопия светоизлучающих полупроводниковых структур с помощью апертурного кантилевера»

 

Быков Виктор Александрович, д.т.н., профессор, Ген. директор, ЗАО "НТ-МДТ", Шубин Андрей Борисович, вицепрезидент, ЗАО "НТ-МДТ", Москва

 

Лекция: «Современное оборудование для создания и диагностики объектов наноэлектроники»

 

Вихров Сергей Павлович, г.н.с., д.ф.-м.н., профессор, Рязанский государственный радиотехнический университет

Лекция: «Диагностика процессов самоорганизации наноматериалов и наноструктур методами 2D DFA и СВИ»

 

Вишняков Николай Владимирович, директор Регионального центра зондовой микроскопии коллективного пользования, к.т.н., доцент, Рязанский государственный радиотехнический университет

Мастер-класс «Методы диагностики локальных электрофизических характеристик микро- и наноструктур на основе неупорядоченных полупроводников».

Мастер-класс «Методы диагностики МДП И p-i-n-структур с активными слоями на основе неупорядоченных полупроводников»

 

Воронов Герман Александрович, менеджер продаж, ЗАО «Компания «НТНК»

Лекция: «Методы и средства измерений характеристик материалов и устройств»

 

Данилов Юрий Александрович, зав. лабораторией, к.ф.-м.н., в.н.с., Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского университета им. Н.И. Лобачевского

Лекция: «Определение характеристик магнитных полупроводниковых наноструктур оптическими методами»

 

 

Дьячков Павел Николаевич, д.х.н., профессор, Институт общей и неорганической химии им. Н.С.Курнакова РАН.

Лекция: «Роль спин-орбитального взаимодействия и влияние примесей на электронные свойства нанотрубок»

 

Здоровейщев Антон Владимирович, к.ф.-м.н., с.н.с., Научно-исследовательский физико-технический институт Нижегородского государственного университета им. Н.И. Лобачевского

Лекция: «Технология лабораторных диодов Шоттки и их применение для диагностики физических свойств полупроводников»

 

Ильин Александр Викторович, директор департамента аналитического оборудования

Лекция: «Импульсный плазменный источник для осаждения наночастиц и ультратонких плёнок»

 

Кожевин Владимир Михайлович, старший научный сотрудник ФТИ им. А.Ф. Иоффе

Лекция: «Кельвин-зонд измерения зарядового состояния металлических наноструктур на проводящих подложках»

 

Козюхин Сергей Александрович, д.х.н. Учреждение Российской академии наук Институт общей неорганической химии им. Н.С. Курнакова

Лекция: «Солнечные элементы на основе нанокристаллического TiO2, сенсибилизированного комплексными соединениями»

 

 

Корнилович Александр Антонович, д.ф.-м.н., ведущий научный сотрудник, Рязанский государственный радиотехнический университет Круглый стол: «Особенности определения параметров полупроводниковых микро- и наноструктур по магнитным квантовым эффектам и спектроскопии адмиттанса»

 

Литвинов Владимир Георгиевич, директор НОЦ Неупорядоченных и наноструктурированных материалов и устройств на их основе, к.ф.-м.н., доцент, Рязанский государственный радиотехнический университет

Мастер-класс «Измерение и исследование шумовых характеристик полупроводниковых барьерных структур».

Лекция: «Особенности применения спектроскопии низкочастотного шума для диагностики полупроводниковых диодных структур с квантовой ямой»

 

Миловзоров Дмитрий Евгеньевич, к.т.н., в.н.с., Рязанский государственный радиотехнический университет

Мастер-класс «Оптические спектры пленок гидрогенизированного нанокристаллического кремния для определения ширины запрещенной зоны»

 

Минаев Виктор Семенович, д.х.н., профессор, Национальный исследовательский университет «МИЭТ», Зеленоград

Лекция: «Генетическая взаимосвязь стеклообразного, кристаллического и жидкого состояния: стеклование и девитрификация»

 

Мишустин Владислав Геннадьевич, начальник лаборатории Регионального центра зондовой микроскопии коллективного пользования, к.ф.-м.н., доцент, Рязанский государственный радиотехнический университет

Мастер-класс «Измерение электрофизических параметров барьерных структур на основе неупорядоченных полупроводников для фотоэлектрических преобразователей методом компенсации нестационарного фототока»

 

Мошников Вячеслав Алексеевич, д.ф.-м.н., профессор, Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет “ЛЭТИ” имени В.И. Ульянова (Ленина)

Лекция: «Модели дефектности кристаллов в современном материаловедении»

Лекция: «Локальный метод анализа отклонения от стехиометрии. Анализ диффузионных процессов собственных дефектов в процессе эпитаксии»

 

Попов Анатолий Игоревич, д.т.н., профессор, Национальный исследовательский университет «МЭИ»

Лекция: «Структура и термостабильность пленок металлосодержащих кремний-углеродных нанокомпозитов»

 

Рыбин Николай Борисович, начальник лаборатории Регионального центра зондовой микроскопии коллективного пользования, к.ф.-м.н., Рязанский государственный радиотехнический университет

Мастер-класс: «Растровая электронная микроскопия и энергодисперсионный рентгеновский микроанализ»

 

Шерченков Алексей Анатольевич, д.т.н., профессор, Национальный исследовательский университет «МИЭТ»

Лекция: «Исследование особенностей механизма и кинетики кристаллизации в тонких пленках материалов»

 

Цэндин Константин Дамдинович, д. ф.-м. н., профессор, Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН

Лекция: «Успехи и проблемы физики эффектов переключения и памяти в халькогенидах»

Канал РГРТУ в сети ВКонтакте Канал РГРТУ в сети Одноклассники Канал РГРТУ в Youtube Канал РГРТУ в Telegram Канал РГРТУ в RuTube Канал РГРТУ в Дзен Канал РГРТУ в RuTube